納米粒徑與電位分析儀工業(yè)化模塊化設(shè)計可擴展ZETA電位

Nicomp 380系列納米粒徑與電位分析儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析顆粒的粒度分布，主要用于檢測納米級別的體系和其他膠體體系，其粒徑檢測范圍0.3 nm-10μm。

Nicomp 380系列儀器均采用的工業(yè)化模塊化設(shè)計，可靈活方便地擴展ZETA電位和其他功能，如：的自動稀釋系統(tǒng)、自動進樣系統(tǒng)、在線進樣系統(tǒng)、多角度監(jiān)測系統(tǒng)和各種激光器/檢測器。

 

NICOMP 380 Z3000 納米粒徑與電位分析儀特點

1、同機測試懸浮液體的粒徑分布以及ZETA電勢電位

2、Zeta電位運用了多普勒電泳遷移原理以及的相位分析散射法可以測試水相和有機相的樣品

3、檢測范圍寬廣，亞微米顆粒均可以被檢測

4、樣品測試量小

5、高辨析率

6、結(jié)果重現(xiàn)性好，誤差小于1%

7、100 % 樣品可回收利用

8、可搭載自動滴定儀, 自動稀釋器和自動進樣器

9、無須校準(zhǔn)

10、一次性進樣，避免交叉污染樣品

11、可選配大功率激光發(fā)生器以及*級APD雪崩二極管檢測器來檢測粒徑小于1nm的顆粒